高(gao)低溫交(jiao)變(bian)濕熱試驗箱概述(shu)：

高低(di)溫交變濕熱試(shi)驗(yan)箱適用于電子電工產品、儀(yi)器儀(yi)表、原材料(liao)、電子元件等高低(di)溫適應(ying)性試(shi)驗(yan)、低(di)溫恒(heng)溫及儲存；可程式(shi)恒溫(wen)恒濕試(shi)驗箱(xiang)特別適(shi)(shi)用于光纖(xian)、晶(jing)體、精密(mi)電感、PCB、LCD等(deng)產品的高低(di)溫適(shi)(shi)應性試(shi)驗。

高低溫交(jiao)變(bian)濕熱(re)試(shi)驗(yan)箱詳(xiang)細資料：

特點：

• 可(ke)程式恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗(yan)箱采用進(jin)口可(ke)編(bian)程溫(wen)(wen)度控制器,專家(jia)PID算法,LCD顯示設定(ding)和測量溫(wen)(wen)度，溫(wen)(wen)度控制穩(wen)定(ding)可(ke)靠(kao),操作簡單,程式編(bian)輯容易；
• 可(ke)程式(shi)恒溫恒濕試驗箱*的送風(feng)循(xun)環(huan)系統，避免了氣流在箱內(nei)流通(tong)死角，提高了產品(pin)溫度均勻度;
• 全封閉進口壓縮機+環(huan)保(bao)冷媒+機械式單級/復迭低(di)溫回路系統(tong),制冷效果好,可靠性高;
• 完善的安(an)全(quan)保護裝置,確保產品的運行(xing)更(geng)加安(an)全(quan)可靠;
• 可程(cheng)式恒(heng)溫恒(heng)濕試驗箱多樣的溫度控制器可供用戶(hu)選(xuan)擇。

執行與(yu)滿足標準

1. GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術條件
2. GB/T11158-1989 高溫試(shi)驗箱技術條件
3. GB/T10592-1989 高低溫試驗箱(xiang)技術條件(jian)
4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗A規程: 低溫試驗方法
5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試(shi)驗B規程(cheng): 高溫試(shi)驗方法

用途

• 可(ke)程式恒溫恒濕試驗箱適用于電(dian)子電(dian)工產品、儀(yi)器儀(yi)表(biao)、原材料(liao)、電(dian)子元件等高低溫適應性試驗、低溫恒溫及(ji)儲存；

• 可(ke)程式恒溫恒濕(shi)試驗箱特別適用(yong)于光纖、晶體、精密電感(gan)、PCB、LCD等(deng)產(chan)品(pin)的高(gao)低溫(wen)適應(ying)性試驗。